冷熱沖擊熱應(yīng)力試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：冷熱沖擊熱應(yīng)力試驗(yàn)箱改變了傳統(tǒng)進(jìn)行溫度循環(huán)、高低溫衝擊（兩箱式）、高低溫+常溫衝擊（三箱式）、應(yīng)力篩選ESS，至少需要購(gòu)買四臺(tái)設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購(gòu)很多種設(shè)備才能完成的試驗(yàn)，需耗費(fèi)許多添購(gòu)設(shè)備&占用空間的硬體成本，一次解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗(yàn)的多樣性與多變性，提高機(jī)臺(tái)使用的稼動(dòng)率。

所屬分類：冷熱沖擊應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2024-05-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	價(jià)格區(qū)間	20萬(wàn)-50萬(wàn)
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

冷熱沖擊熱應(yīng)力試驗(yàn)箱改變了傳統(tǒng)進(jìn)行溫度循環(huán)、高低溫衝擊(兩箱式)、高低溫+常溫衝擊(三箱式）、應(yīng)力篩選ESS，至少需要購(gòu)買四臺(tái)設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購(gòu)很多種設(shè)備才能完成的試驗(yàn)，需耗費(fèi)許多添購(gòu)設(shè)備&占用空間的硬體成本，一次解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗(yàn)的多樣性與多變性，提高機(jī)臺(tái)使用的稼動(dòng)率。並且不需再依不同待測(cè)品去耗費(fèi)時(shí)間手動(dòng)調(diào)整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動(dòng)幫您搞定，賽思秉持著符合國(guó)際規(guī)範(fàn)的原則，結(jié)合貼心的創(chuàng)新功能與技術(shù)，期待您詳細(xì)了解。對(duì)不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求。斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]：

冷熱沖擊熱應(yīng)力試驗(yàn)箱試驗(yàn)分析：

技術(shù)規(guī)格：

型號(hào)	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內(nèi)箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時(shí)間設(shè)定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動(dòng)度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以內(nèi)
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃